JEOL JSX-3100R X-ray fluorescence analyzer
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Calibration of Energy ERROR








エネルギー校正エラー発生品

X線発生部
管電圧:最大50kV
管電流:最大1mA
X線照射系
試料室:300mmφ*150mmH
分光室Ⅲ形
有効X線照射系:最大 約15mmφ
一次コリメータ:1mmφ*1,3mmφ*4,7mmφ*4
X線計数部
液体窒素フリーSiLi検出器
半導体素子:Si(Li)
検出元素範囲:Na~U
窓材:Be
ソフトウェア:
バルク、薄膜FP法/検量線/分析結果報告書作成

オプション:
・試料観察用CCDカメラ
・排気ユニットⅣ型

設置条件
装置寸法・質量
本体:650mm*750mm*460mm 90kg
検出器コントローラ:650mm*200mm*235mm 13kg
ロータリーポンプ:225mm*526mm*240mm 25kg
電源:AC100V

メーカー定価:JPY13,300,000

Detection element range:Na to U
X ray generat:5 to 50kV 1mA 50W
Target:Rh
Collimateror:1mm/3mm/7mm
Detector:
liquid nitrogen free Si(Li) semiconductor detector
Sample chamber size:Diameter 300mm x 150mm (H)

Software:
RoHS analysis : Plastic 5 element analysis, Metal material 5 element analysis, Analysis result reporting software
Ggeneral analysis: The bulk FP method , The thin film FP method Calibration curve method

PC,Monitor,Mouse,Keyboard,Connection Cable,Calibration material,J-Manual,Compressor(VAC)